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2008 - ISO, IEC, NIST and OECD Workshop

ISO, IEC, NIST and OECD International workshop on documentary standards for measurement and characterization for nanotechnologies NIST, Gaithersburg, Maryland, USA 26 – 28 February 2008

ISO, IEC, NIST and OECD 26 – 28 February 2008.pdf — PDF document, 671Kb

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